數(shù)控裁斷機(jī)形勢(shì)不斷地向儀器儀表提出了更高要求

裁斷機(jī)這一背景和形勢(shì),不斷地向儀器儀表提出了更高、更新、更多的要求,如要求速度更快、靈敏度更高、穩(wěn)定性更好、樣品量更少、檢測(cè)微損甚至無(wú)損、遙感遙測(cè)更遠(yuǎn)距、使用更方便、成本更低廉、無(wú)污染等,同時(shí)也為儀器儀表科技與產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供了強(qiáng)大的推動(dòng)力,并成了儀器儀表進(jìn)一步發(fā)展的物質(zhì)、知識(shí)和技術(shù)基礎(chǔ), 尤其需要指出的是：近10年來(lái),由于包括納米級(jí)的精密機(jī)械研究成果、分子層次的現(xiàn)代化學(xué)研究成果、基因?qū)哟蔚纳飳W(xué)研究成果,以及高精密超性能特種功能材料研究成果和全球網(wǎng)絡(luò)技術(shù)推廣應(yīng)用成果等在內(nèi)的一大批當(dāng)代最新技術(shù)成果的競(jìng)相問世,使得儀器儀表領(lǐng)域發(fā)生了根本性的變革, 隨著世界的發(fā)展。